A、冷凍結(jié)束后,應即加入溫度為(18~20)℃的水,加水時間不應超過10min
B、冷凍結(jié)束后,應即加入溫度為100℃的熱水,加水時間不應超過10min
C、溫控系統(tǒng)應確保在30min內(nèi),水溫不低于10℃,且在30min后水溫能保持在(18~20)℃
D、箱內(nèi)水面應至少高出試件表面20mm
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A、試件架與試件的接觸面積不宜超過試件底面的1/5
B、試件與箱體內(nèi)壁之間應至少留有20mm空隙
C、試件架中各試件應緊密擺放
D、試件架中各試件之間應至少保持30mm空隙
A、冷凍期間箱內(nèi)溫度應能保證在(-20~-18)℃范圍
B、融化期間箱內(nèi)浸泡砼試件的水溫應能保證在(18~20)℃范圍
C、滿載時箱內(nèi)各點溫度極差不應超過2℃
D、滿載時箱內(nèi)各點溫度極差不應超過5℃
A、立方體
B、棱柱體
C、圓柱體
D、圓球體
A、立方體
B、棱柱體
C、圓柱體
D、圓球體
A、水凍水融
B、氣凍氣融
C、氣凍水融
D、水凍氣融
最新試題
鑄造多晶硅中氫的主要作用包括()
與半導體相比較,絕緣體的價帶電子激發(fā)到導帶所需的能量()
一塊半導體壽命τ=15µs,光照在材料中會產(chǎn)生非平衡載流子,光照突然停止30µs后,其中非平衡載流子將衰減到原來的()。
硅片拋光在原理上不可分為()
光子傳感器是利用某些半導體材料在入射光的照下,產(chǎn)生().使材料的電學性質(zhì)發(fā)生變化。通過測量電學性質(zhì)的變化,可以知道紅外輻射的強弱。光子效應所制成的紅外探測器。
影響單晶內(nèi)雜質(zhì)數(shù)量及分布的主要因素是()①原材料中雜質(zhì)的種類和含量;②雜質(zhì)的分凝效應;③雜質(zhì)的蒸發(fā)效應;④生長過程中坩堝或系統(tǒng)內(nèi)雜質(zhì)的沾污;⑤加入雜質(zhì)量;
那個不是影響直拉單晶硅的電阻率均勻性的因素()
可用作硅片的研磨材料是()
表面態(tài)中性能級位于費米能級以上時,該表面態(tài)為();
制約鑄造多晶硅材料少子壽命的主要因素不包括()