A.剩磁會(huì)使電弧產(chǎn)生偏吹現(xiàn)象
B.交流電兩次磁化工序間可不退磁
C.直流電兩次磁化工序之間可不退磁
D.工件處于強(qiáng)磁場(chǎng)附近可不退磁
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A.直流縱向
B.直流周向
C.交流縱向
D.交流周向
A.軸向通電法
B.觸頭法
C.中心導(dǎo)體法
D.線圈法
A.毫特斯拉計(jì)又稱為高斯計(jì)
B.毫特斯拉計(jì)的用途是測(cè)量磁場(chǎng)強(qiáng)度
C.毫特斯拉計(jì)的原理是霍爾效應(yīng)
D.毫特斯拉計(jì)的用途是測(cè)量磁化電流的大小
A.線性缺陷評(píng)定
B.圓形缺陷評(píng)定
C.綜合評(píng)定
D.橫向缺陷評(píng)定
A.退磁因子與工件的幾何形狀有關(guān)
B.退磁因子與工件的化學(xué)性質(zhì)有關(guān)
C.退磁因子與工件的導(dǎo)電性能有關(guān)
D.退磁因子與工件的表面硬度有關(guān)
最新試題
下列屬于在役蒸汽發(fā)生器二次側(cè)外部目視檢驗(yàn)的是：（）。
圖像傳導(dǎo)束光纖的直徑一般在：（）。
標(biāo)準(zhǔn)QJ2859-1996《工業(yè)內(nèi)窺鏡操作使用方法與判定規(guī)則》中規(guī)定，進(jìn)行內(nèi)窺鏡檢測(cè)的產(chǎn)品溫度應(yīng)在：（）。
下面視頻內(nèi)窺鏡測(cè)量技術(shù)，哪種不是陰影測(cè)量法：（）。
無(wú)損檢驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)之一在于能不損害被檢件的使用性能而確定被檢件的質(zhì)量。
鍛件磁粉檢驗(yàn)時(shí)，磁痕顯示不濃密，但對(duì)其表面打磨后磁痕更加清晰，可能是以下哪種缺陷造成的（）？
橫孔試塊不能測(cè)定探頭雙峰。
照度計(jì)是用來(lái)測(cè)量工作場(chǎng)所光照度的基本儀器，不可以用來(lái)測(cè)量：（）。
工件表面太粗糙、工件表面被污染、磁場(chǎng)強(qiáng)度過大或磁懸液濃度過大等，都會(huì)產(chǎn)生過度背景。其磁痕特征是：（）。
焊縫磁粉檢驗(yàn)時(shí)，磁痕特征為：磁粉沉積為點(diǎn)狀（橢圓狀）或粗短線條狀，磁粉堆積不緊密，較平直；條狀兩端不尖細(xì)，但有一定面積。這可能是：（）。