A.毫特斯拉計(jì)又稱(chēng)為高斯計(jì)
B.毫特斯拉計(jì)的用途是測(cè)量磁場(chǎng)強(qiáng)度
C.毫特斯拉計(jì)的原理是霍爾效應(yīng)
D.毫特斯拉計(jì)的用途是測(cè)量磁化電流的大小
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A.線(xiàn)性缺陷評(píng)定
B.圓形缺陷評(píng)定
C.綜合評(píng)定
D.橫向缺陷評(píng)定
A.退磁因子與工件的幾何形狀有關(guān)
B.退磁因子與工件的化學(xué)性質(zhì)有關(guān)
C.退磁因子與工件的導(dǎo)電性能有關(guān)
D.退磁因子與工件的表面硬度有關(guān)
A.磁粉堆積多而松散,磁痕輪廓不清晰
B.磁粉堆積少而松散,磁痕輪廓清晰
C.磁粉堆積多而集中,磁痕輪廓清晰
D.磁粉均勻分布,磁痕輪廓清晰明顯
A.疲勞裂紋
B.磨削裂紋
C.弧坑裂紋
D.熔合線(xiàn)裂紋
A.水洗
B.溶劑清洗
C.機(jī)械打磨
D.擦除
最新試題
當(dāng)板上有水或油時(shí),蘭姆波的衰減顯著增大。
下面視頻內(nèi)窺鏡測(cè)量技術(shù),哪種不是陰影測(cè)量法:()。
圖像傳導(dǎo)束光纖的直徑一般在:()。
無(wú)損檢驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)之一在于能不損害被檢件的使用性能而確定被檢件的質(zhì)量。
下列屬于在役蒸汽發(fā)生器二次側(cè)外部目視檢驗(yàn)的是:()。
按照ASME 規(guī)范要求可以用來(lái)作為目視檢驗(yàn)靈敏度試樣的是:()。
工件上剩磁對(duì)進(jìn)一步加工和使用的影響,錯(cuò)誤的是:()。
關(guān)于毫特斯拉計(jì)的敘述,錯(cuò)誤的是:()。
橫孔試塊不能測(cè)定探頭雙峰。
鍛件磁粉檢驗(yàn)時(shí),磁痕顯示不濃密,但對(duì)其表面打磨后磁痕更加清晰,可能是以下哪種缺陷造成的()?