A.負(fù)電子親和勢(shì)陰極;
B.電子光學(xué)系統(tǒng);
C.微通道板MCP;
D.光纖面板;
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你可能感興趣的試題
A.P區(qū)
B.N區(qū)
C.結(jié)區(qū)
D.玻璃窗
A.增強(qiáng)型;
B.時(shí)間延遲型;
C.電子轟擊模式;
D.紅外;
A、編碼
B、模擬
C、量化
D、抽樣
A、外差探測(cè)基于兩束光波在探測(cè)器光敏面上的相干效應(yīng)。
B、外差探測(cè)適宜弱光信號(hào)的探測(cè),直接探測(cè)適宜強(qiáng)光信號(hào)的探測(cè)。
C、與外差探測(cè)相比直接探測(cè)具有良好的濾波性能。
D、外差探測(cè)具有高的轉(zhuǎn)換增益。
A、當(dāng)光波長(zhǎng)遠(yuǎn)大于散射粒子尺度時(shí),即產(chǎn)生瑞利散射。
B、當(dāng)光波長(zhǎng)相當(dāng)于或小于散射粒子的尺度時(shí),即產(chǎn)生米氏散射。
C、對(duì)于瑞利散射,藍(lán)光比紅光散射強(qiáng)烈。
D、對(duì)于瑞利散射,波長(zhǎng)越長(zhǎng),散射越強(qiáng)。
最新試題
在設(shè)計(jì)和分析交變光信號(hào)檢測(cè)電路時(shí),需解決下面()的動(dòng)態(tài)計(jì)算問(wèn)題。
成像測(cè)量法存在的問(wèn)題,是當(dāng)物體沿景深方向移動(dòng)時(shí),會(huì)造成放大倍率的變化,這會(huì)()測(cè)量精度。因此,需要解決自動(dòng)調(diào)焦的問(wèn)題。
光電探測(cè)器的選擇要點(diǎn)包括()。
熱釋電器件是一種利用某些晶體材料的自發(fā)極化強(qiáng)度隨溫度變化而產(chǎn)生的熱釋電效應(yīng)制成的熱探測(cè)器件。
以下不能用傅里葉變換光譜儀測(cè)量的是()。
以下主要利用光電子發(fā)射效應(yīng)的光電器件有()。
計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)檢測(cè)方法的關(guān)注點(diǎn)是()。
以下屬于聲光調(diào)制晶體的有()。
在設(shè)計(jì)和分析交變光信號(hào)檢測(cè)電路頻率特性時(shí),應(yīng)包括下列()基本內(nèi)容。
下列哪些儀器可以用于微弱光信號(hào)的檢測(cè)?()