A.本測(cè)量系統(tǒng)從精確度/過(guò)程波動(dòng)比（R&R%）來(lái)說(shuō)是完全合格的
B.本測(cè)量系統(tǒng)從精確度/過(guò)程波動(dòng)比（R&R%）來(lái)說(shuō)是勉強(qiáng)合格的
C.本測(cè)量系統(tǒng)從精確度/過(guò)程波動(dòng)比（R&R%）來(lái)說(shuō)是不合格的
D.上述數(shù)據(jù)不能得到精確度/過(guò)程波動(dòng)比（R&R%），從而無(wú)法判斷
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A.本測(cè)量系統(tǒng)從%P/T角度來(lái)說(shuō)是完全合格的
B.本測(cè)量系統(tǒng)從%P/T角度來(lái)說(shuō)是勉強(qiáng)合格的
C.本測(cè)量系統(tǒng)從%P/T角度來(lái)說(shuō)是不合格的
D.上述數(shù)據(jù)不能得到%P/T值，從而無(wú)法判斷
A.被測(cè)對(duì)象不變，測(cè)量人員不變，各次獨(dú)立重復(fù)測(cè)量結(jié)果之間的差異；
B.被測(cè)對(duì)象不變，在不同初始狀態(tài)的設(shè)定下，各次測(cè)量結(jié)果之間的差異；
C.同一測(cè)量人員，對(duì)各個(gè)被測(cè)對(duì)象各測(cè)一次，測(cè)量結(jié)果之間的差異；
D.以上都不是。
A.臺(tái)秤有較大偏倚（Bias），需要校準(zhǔn)
B.臺(tái)秤有較大的重復(fù)性誤差，已不能再使用，需要換用精度更高的天平。
C.臺(tái)秤存在較大的再現(xiàn)性誤差，需要重復(fù)測(cè)量來(lái)減小再現(xiàn)性誤差。
D.測(cè)量系統(tǒng)沒(méi)有問(wèn)題，臺(tái)秤可以使用。
A.72.4%
B.23.5%
C.95.9%
D.以上答案都不對(duì)
A.平均壽命仍為均值是1000小時(shí)的指數(shù)分布
B.平均壽命近似為均值是1000小時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)差為1000小時(shí)的正態(tài)分布
C.平均壽命近似為均值是1000小時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)差為100小時(shí)的正態(tài)分布
D.以上答案都不對(duì)。
最新試題
小李計(jì)算在受控狀態(tài)下流程的Cp和Cpk：Cp=3.20andCpk=3.15．一個(gè)月后小李重新計(jì)算的結(jié)果為：Cp=3.20andCpk=0.67.小李應(yīng)該：（）
一個(gè)用于優(yōu)化電子控制模塊可靠性的2水平5因子試驗(yàn)，只實(shí)施全因子試驗(yàn)設(shè)計(jì)次數(shù)的一半。問(wèn)這個(gè)試驗(yàn)的分辨率是？（）
限制理論（TOC，Theoryof Constraint）的主要關(guān)注領(lǐng)域是（）.
在同一個(gè)試驗(yàn)設(shè)定下，收集數(shù)個(gè)樣本（）稱(chēng)為（），在同樣的實(shí)驗(yàn)條件下重復(fù)整個(gè)實(shí)驗(yàn)稱(chēng)為（）。
當(dāng)x是連續(xù)型數(shù)據(jù)，y是離散型數(shù)據(jù)，用以下哪種統(tǒng)計(jì)工具？（）
有關(guān)全面生產(chǎn)性維護(hù)（TPM）的描述，不正確的是（）.
在穩(wěn)健參數(shù)設(shè)計(jì)領(lǐng)域，現(xiàn)在公認(rèn)較好的試驗(yàn)與建模方法有兩種不同類(lèi)型：一種是（）進(jìn)行位置與散度建模，另一種是用（）進(jìn)行響應(yīng)建模。
研究完改進(jìn)措施后，決定進(jìn)行試生產(chǎn)。試生產(chǎn)半月后，采集了100個(gè)數(shù)據(jù)。發(fā)現(xiàn)過(guò)程仍未受控，且標(biāo)準(zhǔn)差過(guò)大，平均值也低于目標(biāo)要求。對(duì)于這3方面的問(wèn)題的解決順序應(yīng)該是（）.
在質(zhì)量功能展開(kāi)QFD中，質(zhì)量屋的“屋頂”三角形表示（）
在評(píng)價(jià)項(xiàng)目收益時(shí)，一項(xiàng)目的預(yù)期收益率為10%，凈現(xiàn)值為零，投資時(shí)收益率＜10%，凈現(xiàn)值為零，則該項(xiàng)目：（）