精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測量高程時(shí)應(yīng)使用（）

利用偽距作空間交會(huì)來定位點(diǎn)位的方法稱為（）

水平角觀測誤差超限時(shí)，下列行為不符合規(guī)范規(guī)定的是（）。

絕對定位定位精度為（）。

（）常采用獨(dú)立坐標(biāo)系統(tǒng)。

精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。

雙面水準(zhǔn)尺中，以下說法正確的是（）。

GPS-RTK測圖時(shí)作業(yè)要求有PDOP值應(yīng)小于（）。

衡量地形圖測量的技術(shù)指標(biāo)主要有地物點(diǎn)的（）、等高線插求點(diǎn)的高程中誤差、細(xì)部點(diǎn)的平面和高程中誤差以及地形點(diǎn)的最大點(diǎn)位間距。

設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m，B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀，儀器高為1.43m，平距DAB=341.23m，觀測A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″，則由此算得B點(diǎn)的高程為（）