A.砝碼腐蝕
B.試劑中含有微量待測(cè)組分
C.重量法測(cè)定SiO2時(shí)，試液中硅酸沉淀不完全
D.樣品稱(chēng)量過(guò)程中，環(huán)境溫度和濕度微量波動(dòng)
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A..具有對(duì)稱(chēng)性也就是絕對(duì)值大小相等的正負(fù)誤差出現(xiàn)的概率相等
B.具有單峰性
C.具有有界性
D.正態(tài)分布曲線(xiàn)的位置和形狀是由樣本平均值和樣本標(biāo)準(zhǔn)偏差兩個(gè)參數(shù)確定
A.系統(tǒng)誤差又叫可測(cè)誤差，主要是由某種固定的原因造成的
B.偶然誤差是定量分析中誤差的主要來(lái)源
C.系統(tǒng)誤差是可以通過(guò)校正的方法予以消除或減小
A.重復(fù)測(cè)定樣品
B.測(cè)定一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品
C.測(cè)定一個(gè)內(nèi)部參考標(biāo)準(zhǔn)
A.測(cè)量值與其真值之差
B.含有誤差之值與真值之差
A.同一操作者
B.較長(zhǎng)的時(shí)間
C.相同的儀器
最新試題
精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測(cè)量高程時(shí)應(yīng)使用（）
若依次采用元素法、主點(diǎn)法或交點(diǎn)法三種路線(xiàn)定義方法，那么路線(xiàn)定義的最終數(shù)據(jù)為最后采用（）的定義方法所得到的有效數(shù)據(jù)。
絕對(duì)定位定位精度為（）。
RTK測(cè)量的基本工作流程中，在至少（）個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)（即點(diǎn)校正）。
度盤(pán)刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤(pán)位置削弱該誤差影響。
同步基線(xiàn)是利用同一時(shí)段的（）同步觀測(cè)站所采集的觀測(cè)數(shù)據(jù)所計(jì)算出的若干基線(xiàn)向量。
儀器及反光鏡的對(duì)中偏差均不應(yīng)大于（）。
采用GNSS RTK（），可完全消除與接收衛(wèi)星有關(guān)的誤差（衛(wèi)星鐘誤差、星歷誤差），可大部分消除衛(wèi)星信號(hào)傳播延遲誤差（電離層誤差、對(duì)流層誤差），從而能夠提高定位精度。
路線(xiàn)定義（主點(diǎn)法）曲線(xiàn)左偏時(shí)，半徑輸入為（）值。
GNSS RTK測(cè)量系統(tǒng)主要由基準(zhǔn)站GNSS接收機(jī)、（）以及流動(dòng)站GNSS接收機(jī)3部分組成。