A、防止產(chǎn)生雜波
B、使脈沖變窄
C、使盲區(qū)變小
D、以上都是
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A、波長(zhǎng)短
B、聲束窄
C、能量集中
D、以上都對(duì)
A、探測(cè)深度大
B、檢測(cè)速度快
C、費(fèi)用低
D、以上都對(duì)
A、24°
B、27°
C、37°
D、48°
A、減小
B、增大
C、不變
D、既可增大又可減小
A、氣體
B、液體
C、固體
D、以上都不對(duì)
最新試題
渦流檢測(cè)線圈是在被檢測(cè)導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生()
無損探傷檢測(cè)采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長(zhǎng)范圍為()mm,峰值波長(zhǎng)為365mm。
當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時(shí),移動(dòng)探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。
對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量()測(cè)量功能的通用型儀器。
()件對(duì)不同類型的檢測(cè)對(duì)象和要求,采用的方式各有不同。
在聲束垂直試件表面時(shí),所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
對(duì)于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
缺陷檢測(cè)即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì),它反映子實(shí)體滿足需要的()