單項(xiàng)選擇題當(dāng)要求探頭有最大靈敏度時()。

A、應(yīng)使用直探頭
B、要使用大晶片探頭
C、壓電元件應(yīng)在其基頻上激發(fā)
D、探頭的頻帶應(yīng)盡可能寬


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1.單項(xiàng)選擇題試塊的最小幾何尺寸根據(jù)幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到()。

A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不對

2.單項(xiàng)選擇題試塊的最小幾何尺寸根據(jù)()。

A、探頭耦合面幾何尺寸來決定
B、根據(jù)試塊材料決定
C、幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到4λ以上
D、以上都不對

3.單項(xiàng)選擇題采用雙晶直探頭檢驗(yàn)大口徑“管座角焊縫”時,調(diào)節(jié)探傷靈敏度應(yīng)采用()。

A、底波計算法
B、試塊法
C、通用AVG曲線法
D、以上都可以

4.單項(xiàng)選擇題直接接觸法探傷可以使用()。

A、直探頭
B、斜探頭
C、雙晶探頭
D、以上都可以

5.單項(xiàng)選擇題下列()晶片發(fā)射縱波的近場區(qū)最長。

A、1MHzφ14mm
B、2.5MHzφ14mm
C、1MHzφ20mm
D、25MHzφ30mm

最新試題

用于測量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計,其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測量黑光。

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掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。

題型:單項(xiàng)選擇題

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缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。

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對于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。

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渦流檢測線圈感應(yīng)和接收材料或零件中感生渦流的再生磁場的傳感器,它是構(gòu)成()系統(tǒng)的重要組成部分,對于檢測結(jié)果的好壞起著重要的作用。

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渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生()

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渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。

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采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。

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對檢測儀的時間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。

題型:單項(xiàng)選擇題