A.一倍
B.兩倍
C.三倍
D.四倍
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A.左
B.右
C.左、右都行
D.上
A.10~25mm
B.25~150mm
C.150~220mm
D.220~400mm
A.偶數(shù)
B.奇數(shù)
C.任意分區(qū)
D.任意
A.增大
B.減小
C.不變
D.任意
A.測定斜探頭入射點
B.調(diào)整探測范圍和掃描速度
C.調(diào)節(jié)探傷靈敏度
D.以上都對
最新試題
超聲波在圓柱內(nèi)反射,如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換,且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波,返回探頭接收,會形成等邊的三角形遲到回波。
儀器時基線調(diào)節(jié)比例時,若回波前沿沒有對準相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準,會使缺陷定位誤差增加。
在檢測晶粒粗大和大型工件時,應(yīng)測定材料的衰減系數(shù),計算時應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。
對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實心圓柱體時,入射點處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。
當工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時,若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。
衍射時差法對缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測量精確,實時成像,快速分析。
分辯率可使用通用探傷儀進行測量,測試時儀器抑制置“零”或“開”位,必要時可加匹配線圈。
缺陷垂直時,擴散波束入射至缺陷時回波較高,而定位時就會誤認為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致定位不準。
為了減少側(cè)壁的影響,必要時可采用試塊比較法進行定量,以便提高定量精度。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊,使之形成高溫耦合層。