A.掃描隧道顯微鏡
B.原子力顯微鏡
C.靜電力顯微鏡
D.掃描離子電導(dǎo)顯微鏡
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A.橫向分辨率為0.01nm,縱向分辨率為0.01nm
B.可以在大氣、真空、溶液環(huán)境下進(jìn)行工作
C.可以在高溫和低溫狀態(tài)下工作
D.可以對(duì)金屬樣品進(jìn)行掃描
A.對(duì)于導(dǎo)電性好的樣品,只需直接粘在樣品臺(tái)上,即可進(jìn)行觀察
B.對(duì)于非導(dǎo)電樣品,要進(jìn)行鍍膜處理,增加導(dǎo)電性
C.鍍膜可以是金、銀、碳,膜厚在10~20nm
D.鍍膜方法為離子濺射或真空蒸發(fā)
A.景深是對(duì)樣品高低不平的各部位同時(shí)聚焦成像的能力范圍
B.電子束的入射半角越大,景深越大
C.掃描電子顯微鏡景深比光學(xué)顯微鏡的景深大
D.掃描電子顯微鏡景深比透射電子顯微鏡的景深小
A.二次電子
B.背散射電子
C.法拉第網(wǎng)杯
D.特征X射線
A.產(chǎn)生范圍在表層100~1000nm內(nèi)
B.產(chǎn)額隨原子序數(shù)增加而增加
C.可用于樣品的表面形貌分析
D.可用于樣品的表面成分分析
最新試題
產(chǎn)生俄歇電子深度范圍為表層以下()
X射線光譜能給出材料的哪些信息()
釔鋁石榴石激光器可在()nm的近紅外區(qū)使用。
紅外光譜中官能團(tuán)區(qū)為()
表面與界面成分分析的手段有()
X射線光譜能對(duì)元素周期表中所有元素進(jìn)行定性分析。
在光電子能譜中,影響化學(xué)位移的因素有()
對(duì)埃利斑來說,光強(qiáng)度的()集中在中央亮斑,其余由內(nèi)向外遞減。
影響俄歇電子強(qiáng)度的因素有()
材料分析的基本原理是指測(cè)量信號(hào)與材料成分、結(jié)構(gòu)等的特征關(guān)系。