多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

曲面工件探傷時，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測技術(shù)綜合考慮。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進行橫波探傷。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

測定儀器垂直線性和動態(tài)范圍時，應將儀器的“抑制”和“深度補償”旋鈕置于關(guān)的位置。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。