CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。

實際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

測定組合靈敏度時，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進行測試。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進行橫波探傷。

多探頭法是用兩個以上的探頭同時工作的檢測方法。