曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

液浸法的優(yōu)點(diǎn)之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測(cè)結(jié)果重復(fù)性好。

脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

檢測(cè)面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

多探頭法是用兩個(gè)以上的探頭同時(shí)工作的檢測(cè)方法。

斜探頭楔塊上部和前部開(kāi)消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來(lái)調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測(cè)范圍。

穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。