斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。

測定組合靈敏度時(shí)，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進(jìn)行測試。

脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。

脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對(duì)厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。

由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。