判斷題中心導(dǎo)體法可用于檢測(cè)工件內(nèi)、外表面與電流平行的橫向缺陷和端面的徑向缺陷。
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組合裝配件應(yīng)分解后再進(jìn)行磁粉檢測(cè)。
題型:判斷題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場(chǎng)中,逐漸減小電流至零。
題型:判斷題
在工件內(nèi)部的剩磁,周向磁化要比縱向磁化大的多。
題型:判斷題
一般說(shuō)來(lái),進(jìn)行了周向磁化工件的退磁,應(yīng)先進(jìn)行一次縱向磁化。
題型:判斷題
工件的退磁效果一般可用剩磁檢查儀或磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)測(cè)定。
題型:判斷題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:磁粉檢測(cè)的工件表面不得有油脂、鐵銹、氧化皮或其它粘附磁粉的物質(zhì)。
題型:判斷題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時(shí)應(yīng)用2~10倍放大鏡進(jìn)行觀察。
題型:判斷題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:檢測(cè)后加熱至600℃以上進(jìn)行熱處理的工件,一般可不進(jìn)行退磁。
題型:判斷題
剩磁法不能用于干法檢測(cè)。
題型:判斷題
熒光磁粉檢測(cè)時(shí),磁痕的評(píng)定應(yīng)在暗室或暗處進(jìn)行,暗室或暗處可見(jiàn)光照度應(yīng)不小于20Lx。
題型:判斷題