A.大數(shù)定理
B.正態(tài)分布原理
C.帕累托原理
D.頻數(shù)分布原理
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A.圖形對稱分布，且兩邊距標(biāo)準(zhǔn)還有一定余量，實(shí)際中心與標(biāo)準(zhǔn)中心重合
B.圖形對稱分布，且兩邊距標(biāo)準(zhǔn)還有一定余量，實(shí)際中心與標(biāo)準(zhǔn)中心不重合
C.圖形對稱分布，且兩邊距標(biāo)準(zhǔn)還有很大余量，實(shí)際中心與標(biāo)準(zhǔn)中心重合
D.圖形對稱分布，且兩邊距標(biāo)準(zhǔn)的余量為零，實(shí)際中心與標(biāo)準(zhǔn)中心重合
A.調(diào)整分布中心，使分布中心與公差中心重合
B.已出現(xiàn)不合格品，應(yīng)多方面采取措施，減少標(biāo)準(zhǔn)偏差，或放寬過嚴(yán)的公差范圍
C.工序能力出現(xiàn)過剩，應(yīng)改變工藝，放寬加工精度或減少檢驗(yàn)頻次
D.減少標(biāo)準(zhǔn)偏差
A.調(diào)整分布中心，使分布中心與公差中心重合
B.放寬過嚴(yán)的公差范圍
C.應(yīng)改變工藝，放寬加工精度或減少檢驗(yàn)頻次
D.減少標(biāo)準(zhǔn)偏差
A.調(diào)整分布中心，使分布中心與公差中心重合
B.減少標(biāo)準(zhǔn)偏差
C.放寬加工精度或減少檢驗(yàn)頻次
D.減少準(zhǔn)偏差，或放寬過嚴(yán)的公差范圍
A.雙峰型
B.孤島型
C.平頂型
D.鋸齒型
最新試題
作為第三方認(rèn)證機(jī)構(gòu)的政府或非政府團(tuán)體，應(yīng)具備的條件包括（）。
在市場調(diào)查中，（）是調(diào)查企業(yè)面臨的各種環(huán)境對產(chǎn)品質(zhì)量提出的各種限制條件和新的質(zhì)量要求。
試從國家、社會和企業(yè)的角度分析提高產(chǎn)品質(zhì)量的意義。
需方與供方為保證檢驗(yàn)數(shù)據(jù)的統(tǒng)一性而就檢驗(yàn)方法達(dá)成協(xié)議，其目的是保證雙方對產(chǎn)品質(zhì)量的檢驗(yàn)具有（）。
根據(jù)質(zhì)量認(rèn)證制度，認(rèn)可機(jī)構(gòu)需要通過認(rèn)證機(jī)構(gòu)的認(rèn)證。
某檢驗(yàn)員抽檢批量為200件，報(bào)告的缺陷數(shù)是90，錯檢數(shù)是10，漏檢數(shù)是20，其檢驗(yàn)準(zhǔn)確性百分率為（）。
影響產(chǎn)品開發(fā)的環(huán)境因素可歸納為（）環(huán)境。
為了正確分析顧客意見，使其成為提高質(zhì)量的可靠信息來源，就必須對現(xiàn)場使用的質(zhì)量信息進(jìn)行管理。
有權(quán)批準(zhǔn)使用方圓認(rèn)證標(biāo)志中的Q標(biāo)志的機(jī)構(gòu)有（）。
模擬驗(yàn)證和樣機(jī)驗(yàn)證屬于設(shè)計(jì)評審工作中的（）。