A.反饋系統(tǒng)
B.粗調(diào)定位系統(tǒng)
C.計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
D.壓電掃描器
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你可能感興趣的試題
A.一種具有非常高的空間分辨率的三維輪廓儀
B.分辨率從原子尺度級(jí)到毫米量級(jí)
C.可以獲得樣品表面的摩擦力、粘附力等信息性
D.可以對(duì)原子分子進(jìn)行操縱
A.掃描隧道顯微鏡
B.原子力顯微鏡
C.靜電力顯微鏡
D.掃描離子電導(dǎo)顯微鏡
A.橫向分辨率為0.01nm,縱向分辨率為0.01nm
B.可以在大氣、真空、溶液環(huán)境下進(jìn)行工作
C.可以在高溫和低溫狀態(tài)下工作
D.可以對(duì)金屬樣品進(jìn)行掃描
A.對(duì)于導(dǎo)電性好的樣品,只需直接粘在樣品臺(tái)上,即可進(jìn)行觀察
B.對(duì)于非導(dǎo)電樣品,要進(jìn)行鍍膜處理,增加導(dǎo)電性
C.鍍膜可以是金、銀、碳,膜厚在10~20nm
D.鍍膜方法為離子濺射或真空蒸發(fā)
A.景深是對(duì)樣品高低不平的各部位同時(shí)聚焦成像的能力范圍
B.電子束的入射半角越大,景深越大
C.掃描電子顯微鏡景深比光學(xué)顯微鏡的景深大
D.掃描電子顯微鏡景深比透射電子顯微鏡的景深小
最新試題
X射線光電子能譜可以得到的信息有()
在光電子能譜圖中,出現(xiàn)在主光電子峰高動(dòng)能端的伴峰可能是()
下列哪種因素不是影響紅外光譜譜峰位置的影響因素()
由布拉格方程變形而引入了干涉指數(shù),對(duì)其描述正確的是()。
X射線光譜能給出材料的哪些信息()
在光電子能譜中,影響化學(xué)位移的因素有()
相鄰元素或基團(tuán)的電負(fù)性越強(qiáng),俄歇電子的化學(xué)位移越大。
某紅外譜圖在1650-2000cm-1沒(méi)有吸收峰,則可推斷樣品()
碳元素的主光電子峰是()
光電子的動(dòng)能受哪些因素影響()