單項選擇題雙晶片直探頭適用于檢查（）
A.餅類鍛件
B.環(huán)類鍛件
C.中厚板
D.以上都可以
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項選擇題下列哪種方法最適合探測厚板（）
A.接觸法垂直入射
B.水浸法垂直入射
C.接觸法斜入射
D.水浸法斜入射
2.單項選擇題探測環(huán)類鍛件時，常采用下列哪種人工反射體來調(diào)整靈敏度（）
A.平底孔
B.V型或矩形槽
C.橫孔
D.A和B
3.單項選擇題環(huán)類鍛件的主要檢測方式是（）
A.端面垂直入射檢驗
B.端面斜入射檢驗
C.圓周面垂直入射檢驗和圓周面斜入射檢驗
D.以上都是
4.單項選擇題根據(jù)餅類鍛件的變形工藝特點，通常具有下列哪種聲傳播特性（）
A.端面區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域大
B.端面區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域小
C.圓周區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域小
D.不能確定
5.單項選擇題探測餅類鍛件時，常采用下列哪種人工反射體來調(diào)整靈敏度（）
A.平底孔
B.橫通孔
C.矩形槽
D.V型槽
最新試題
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
題型：單項選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
題型：單項選擇題
當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
題型：單項選擇題
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
題型：單項選擇題
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。
題型：單項選擇題
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。
題型：單項選擇題
超聲檢測儀盲區(qū)是指（）。
題型：單項選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
題型：單項選擇題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
題型：單項選擇題
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設備及波的形式有關。
題型：單項選擇題