熱釋電器件是一種利用某些晶體材料的自發(fā)極化強(qiáng)度隨溫度變化而產(chǎn)生的熱釋電效應(yīng)制成的熱探測(cè)器件。

光電檢測(cè)電路的設(shè)計(jì)要求包括（）。

CMOS的字母C的英文單詞是（）。

以下效應(yīng)可用于普朗克常量測(cè)量的是（）。

在光電檢測(cè)技術(shù)中，對(duì)交變光信號(hào)的動(dòng)態(tài)響應(yīng)通常采用時(shí)域法處理。

電光效應(yīng)反映介質(zhì)折射率與電場(chǎng)強(qiáng)度可能呈（）。

下列哪些儀器可以用于微弱光信號(hào)的檢測(cè)？（）

軸向測(cè)距可以應(yīng)用于復(fù)雜工件的（）等方面。

以下屬于聲光調(diào)制晶體的有（）。

以下主要利用光電子發(fā)射效應(yīng)的光電器件有（）。