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A.拉丁方設(shè)計(jì)
B.裂區(qū)設(shè)計(jì)
C.對(duì)比法
D.條區(qū)設(shè)計(jì)
A.對(duì)比法設(shè)計(jì)
B.隨機(jī)區(qū)組設(shè)計(jì)
C.完全隨機(jī)設(shè)計(jì)
D.拉丁方設(shè)計(jì)
最新試題
條形圖適用于間斷性變數(shù)和屬性變數(shù)資料的次數(shù)分布狀況。
直線回歸方程建立起來(lái)以后,應(yīng)該對(duì)回歸方程作圖,并且把散點(diǎn)也放在同一張圖形中,這樣可以直觀了解模型的擬合情況。
隨機(jī)變量是用來(lái)代表總體的任意數(shù)值的,隨機(jī)變數(shù)是隨機(jī)變量的一組數(shù)據(jù),代表總體的隨機(jī)樣本資料,可用來(lái)估計(jì)總體參數(shù)。
兩個(gè)位點(diǎn)遺傳分離的遺傳分析時(shí),要應(yīng)用卡方測(cè)驗(yàn),以便測(cè)驗(yàn)兩個(gè)位點(diǎn)是否連鎖。
已知正態(tài)總體觀察值出現(xiàn)在區(qū)間(0.2,+∞)的概率是0.5,那么相應(yīng)的正態(tài)曲線在Y=()時(shí)到最高點(diǎn)。
建立有用的直線回歸方程,一方面要求有較好決定系數(shù),另一方面要求有比較大的樣本容量。
某玉米株高的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差分別為150cm和30cm,果穗長(zhǎng)的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差分別為30和10cm,可認(rèn)為該玉米的株高性狀比果穗性狀變異大。
兩個(gè)回歸方程的比較中,若回歸系數(shù)差異顯著,則不需要比較回歸截距是否差異顯著。
某作物品種可以定義為一個(gè)總體,其變異受環(huán)境影響,也存在遺傳變異,因而形成了品種總體。
數(shù)量性狀的分布適合性測(cè)驗(yàn),要通過試驗(yàn)設(shè)計(jì)精心誤差隨機(jī)大樣本數(shù)據(jù)采集。