A、物鏡的物平面
B、物鏡的像平面
C、物鏡的背焦面
D、物鏡的前焦面
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A、物鏡的物平面
B、物鏡的像平面
C、物鏡的背焦面
D、物鏡的前焦面
A、第二聚光鏡光闌
B、物鏡光闌
C、選區(qū)光闌
D、索拉光闌
A、電子源
B、會(huì)聚電子束
C、形成第一副高分辨率電子顯微圖像
D、進(jìn)一步放大物鏡像
A、電子源
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最新試題
熱分析中,不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測(cè)試結(jié)果沒(méi)有影響。
利用電子探針的波譜儀,一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的,因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。
在熱分析技術(shù)中,利用程序溫控裝置,可以升溫、降溫,但不能測(cè)定材料在恒溫過(guò)程中發(fā)生的變化。
在電子探針中,測(cè)定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀,簡(jiǎn)寫為()。
拉曼光譜分析時(shí),1500cm-1以上的譜帶必定是一個(gè)基團(tuán)的頻率,解釋通常是可靠的,一般可以確信其推論。
電子探針和X射線衍射儀一樣,都可以直接確定材料中所包含的物相。
每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu),晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。
1887年,Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
當(dāng)?shù)挂浊蚺c反射球相交,交線是一個(gè)圓環(huán),環(huán)上每一點(diǎn)都滿足衍射條件,可以產(chǎn)生衍射。
關(guān)于stokes線和anti-Stokes線,說(shuō)法正確的是()。