晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過(guò)調(diào)節(jié)（）的位置來(lái)實(shí)現(xiàn)的。

X射線衍射儀中，通常用于測(cè)定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測(cè)定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。

關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說(shuō)法正確的是（）。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

在電子探針中，測(cè)定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡(jiǎn)寫(xiě)為（）。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

電子束與固體樣品作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

被樣品原子核反彈回來(lái)的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒(méi)有損失。