A、中間鏡的物平面與與物鏡的背焦面重合
B、中間鏡的物平面與與物鏡的像平面重合
C、關(guān)閉中間鏡
D、關(guān)閉物鏡
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A、物鏡的物平面
B、物鏡的像平面
C、物鏡的背焦面
D、物鏡的前焦面
A、物鏡的物平面
B、物鏡的像平面
C、物鏡的背焦面
D、物鏡的前焦面
A、第二聚光鏡光闌
B、物鏡光闌
C、選區(qū)光闌
D、索拉光闌
A、電子源
B、會聚電子束
C、形成第一副高分辨率電子顯微圖像
D、進(jìn)一步放大物鏡像
A、電子源
B、會聚電子束
C、形成第一副高分辨率電子顯微圖像
D、進(jìn)一步放大物鏡像
最新試題
利用電子探針的波譜儀,一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的,因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。
簡單立方結(jié)構(gòu)材料發(fā)生衍射時,可以產(chǎn)生衍射的晶面為()。
差熱分析中,若試樣沒有熱效應(yīng)時,記錄儀所記錄的ΔT曲線,為水平直線,稱為()。
孔徑半角越小,衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。
熱分析技術(shù)中,試樣用量越多,熱效應(yīng)大,內(nèi)部傳熱慢,溫度梯度大,導(dǎo)致峰形擴(kuò)大,峰頂溫度滯后,容易使相鄰峰重疊,降低分辨率。
在電子探針面分析中,根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布,可確定該元素在試樣中分布情況,亮區(qū)代表元素含量()。
拉曼光譜分析時,1500cm-1以上的譜帶必定是一個基團(tuán)的頻率,解釋通常是可靠的,一般可以確信其推論。
熱分析中,不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。
晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的()。
在紅外光譜分析中,基本振動區(qū)是指()。