A.小于真實(shí)粒子大小;
B.是應(yīng)變場(chǎng)大小;
C.與真實(shí)粒子一樣大?。?br />
D.遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于真實(shí)粒子
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A.質(zhì)厚襯度;
B.衍襯襯度;
C.應(yīng)變場(chǎng)襯度;
D.相位襯度。
A.b=(0-10);
B.b=(1-10);
C.b=(0-11);
D.b=(010)。
A.Ig=0;
B.Ig<0;
C.Ig>0;
D.Ig=Imax。
A、第二聚光鏡光闌
B、物鏡光闌
C、選區(qū)光闌
D、索拉光闌
A、中間鏡的物平面與與物鏡的背焦面重合
B、中間鏡的物平面與與物鏡的像平面重合
C、關(guān)閉中間鏡
D、關(guān)閉物鏡
最新試題
粉末多晶樣品中,不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在()半徑的倒易球上。
利用電子探針的波譜儀,一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的,因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。
()需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。
紅外光分為()。
電子束與固體樣品作用時(shí),會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品()的增加而增多。
變形振動(dòng)分為()。
根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理,理想晶體衍射強(qiáng)度隨()而變化。
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過(guò)調(diào)節(jié)()的位置來(lái)實(shí)現(xiàn)的。
在體心點(diǎn)陣中,當(dāng)(HKL)晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí),產(chǎn)生系統(tǒng)消光。
熱分析技術(shù)中,試樣用量越多,熱效應(yīng)大,內(nèi)部傳熱慢,溫度梯度大,導(dǎo)致峰形擴(kuò)大,峰頂溫度滯后,容易使相鄰峰重疊,降低分辨率。