單項(xiàng)選擇題下列哪種掃查方式適用于厚板檢驗(yàn)()
A.全面掃查
B.格子線掃查
C.邊緣掃查
D.以上都可以
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1.單項(xiàng)選擇題雙晶片直探頭適用于檢查()
A.餅類鍛件
B.環(huán)類鍛件
C.中厚板
D.以上都可以
2.單項(xiàng)選擇題下列哪種方法最適合探測(cè)厚板()
A.接觸法垂直入射
B.水浸法垂直入射
C.接觸法斜入射
D.水浸法斜入射
3.單項(xiàng)選擇題探測(cè)環(huán)類鍛件時(shí),常采用下列哪種人工反射體來調(diào)整靈敏度()
A.平底孔
B.V型或矩形槽
C.橫孔
D.A和B
4.單項(xiàng)選擇題環(huán)類鍛件的主要檢測(cè)方式是()
A.端面垂直入射檢驗(yàn)
B.端面斜入射檢驗(yàn)
C.圓周面垂直入射檢驗(yàn)和圓周面斜入射檢驗(yàn)
D.以上都是
5.單項(xiàng)選擇題根據(jù)餅類鍛件的變形工藝特點(diǎn),通常具有下列哪種聲傳播特性()
A.端面區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域大
B.端面區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域小
C.圓周區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域小
D.不能確定
最新試題
單探頭法容易檢出()。
題型:單項(xiàng)選擇題
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
題型:單項(xiàng)選擇題
儀器水平線性影響()。
題型:單項(xiàng)選擇題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
題型:單項(xiàng)選擇題
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
題型:單項(xiàng)選擇題
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
題型:單項(xiàng)選擇題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
題型:單項(xiàng)選擇題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
題型:單項(xiàng)選擇題
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
題型:單項(xiàng)選擇題
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長距離檢測(cè)。
題型:單項(xiàng)選擇題