A.縱向掃查
B.直線掃查
C.橫向掃查
D.格子掃查
E.點(diǎn)掃查
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A.靈敏度
B.超聲波的強(qiáng)弱
C.聲束軸線的方向
D.一次波的聲程
E.二次波的探測(cè)范圍
A.半擴(kuò)散角減小
B.近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度增加
C.波束指向性好
D.半擴(kuò)散角增大
E.超聲波能量集中
A.直探頭
B.縱波斜探頭
C.橫波斜探頭
D.表面波探頭
E.雙晶探頭等
A.聲束變寬
B.聲束變窄
C.聲能集中
D.分辨率高
E.分辨率低
A.大小
B.類型
C.形狀
D.取向
E.尺寸
最新試題
探傷中如遇焊補(bǔ)層下異?;夭刹扇。ǎ┑确椒ㄟM(jìn)行校對(duì)。
探傷中探頭晶片尺寸增加,相應(yīng)的()對(duì)探傷有利。
耦合劑應(yīng)選擇容易附著在試件的表面上,有足夠的浸潤(rùn)性以排除()之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。
超聲波探傷探頭的型式一般有()等。
當(dāng)脫碳層或顯微組織初檢結(jié)果不合格時(shí),應(yīng)在()兩支鋼軌上取樣復(fù)驗(yàn),如兩個(gè)復(fù)驗(yàn)樣的復(fù)驗(yàn)結(jié)果都符合要求,則該批其余的鋼軌可以驗(yàn)收。
根據(jù)接頭鋼軌下顎裂紋形成的原因,可知其具有從()逐步擴(kuò)展的特點(diǎn)。
探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對(duì)受檢工件的()做好記錄。
垂直法探傷時(shí),對(duì)要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查,局部法掃查一般分為()。
探傷中為了保證工件的整個(gè)被檢部位有足夠的聲束覆蓋,探頭掃查線的相鄰距離應(yīng)小于探頭的有效直徑,應(yīng)有探頭寬度()的重疊。
60kg/m與75kg/m軌頭寬度極限偏差為()