材料研究方法章節(jié)練習(xí)(2020.05.15)

來源:考試資料網(wǎng)
參考答案:D.TA分析樣品要求:應(yīng)選擇熱容量和熱導(dǎo)率和試樣相近的作為參比物;試樣的顆粒度要求:100目—300目;試樣...
參考答案:XPS是用單色X射線照射樣品,使其中原子殼層中的電子受激發(fā)逃逸形成自由的光電子,通過測試這些電子的動能來計算它們在原子中...
參考答案:TEM優(yōu)點:
1.分辨率高,常規(guī)電鏡的分辨率極限是2-3埃,可實現(xiàn)的最高線分辨率為1埃左右;
2.放...
參考答案:襯度指試樣不同部位由于對入射電子作用不同,經(jīng)成像放大系統(tǒng)后,在顯示裝置上顯示的強(qiáng)度差異,即圖像上明暗的差異,按形成的機(jī)理...
參考答案:(1)TEM使用電子束作為照射源,透射電子為成像電子信號。
(2)入射電子束(照明束)有兩種主要形式:平行束:...
參考答案:

1.分子離子峰;
2.同位素離子峰;
3.碎片離子峰;
4.重排離子峰;
5.兩價離子峰;
6.離子分子反應(yīng);
7.亞穩(wěn)離子峰。

參考答案:分子結(jié)構(gòu)中處于不同化學(xué)環(huán)境的氫原子或碳原子的核外電子云密度不一樣,導(dǎo)致它們的核外電子云對外加磁場H0