探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對探傷有利。

用斜探頭三次波對某一厚度為15mm，焊縫寬度為44mm進行探測，應(yīng)選擇K值為（）的探頭合適。

由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個面，甚至只有一個可探測面。

探傷中采用軌頭側(cè)面校對法，它主要適用于（）的校對。

探傷中如遇焊補層下異常回波可采?。ǎ┑确椒ㄟM行校對。

剝離層下核傷可采用軌顎法進行校對，用軌顎校對法校對時，需在鋼軌表面校對的靈敏度的基礎(chǔ)上增加（）。

采用兩個斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。

探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對受檢工件的（）做好記錄。

探傷工技師對設(shè)備調(diào)整中的（）的相關(guān)知識應(yīng)了解。

使用雙探頭掃查時，如盲目改變掃查方向，將會導(dǎo)致（）。