單項(xiàng)選擇題使用雙探頭掃查時(shí)，如盲目改變掃查方向，將會導(dǎo)致（）。
A.缺陷檢出的靈敏度發(fā)生變化
B.反射或穿透波不能被另一個(gè)探頭接收
C.穿透波不能被另一個(gè)探頭接收
D.反射波不能被另一個(gè)探頭接收
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1.單項(xiàng)選擇題探傷掃查過程中，探頭的方向應(yīng)根據(jù)（）進(jìn)行布局和掃查。
A.試件的尺寸
B.缺陷存在的規(guī)律
C.探頭的型號
D.儀器的性能
2.單項(xiàng)選擇題探傷中為了保證工件的整個(gè)被檢部位有足夠的聲束覆蓋，探頭掃查線的相鄰距離應(yīng)小于探頭的有效直徑，應(yīng)有探頭寬度（）的重疊。
A.5%
B.10%
C.15%
D.20%
3.單項(xiàng)選擇題在超聲波探傷中當(dāng)工件聲衰減很小、試件的厚度較大時(shí)，如果重復(fù)頻率過高，儀器可能會產(chǎn)生（）
A.干擾波
B.幻象波
C.干擾波和幻象波
4.單項(xiàng)選擇題采用兩個(gè)斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。
A.10-20度
B.30-60度
C.30-90度
D.60-90度
5.單項(xiàng)選擇題探頭移動過程中同時(shí)作（）轉(zhuǎn)動，稱為擺動掃查。
A.5-15度
B.10-20度
C.15-20度
最新試題
采用兩個(gè)斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。
題型：單項(xiàng)選擇題
使用雙探頭掃查時(shí)，如盲目改變掃查方向，將會導(dǎo)致（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對探傷有利。
題型：多項(xiàng)選擇題
在橫波探傷中，探頭K值對探傷（）有較大的影響。
題型：多項(xiàng)選擇題
超聲波探傷探頭的型式一般有（）等。
題型：多項(xiàng)選擇題
在探傷中選用較高的頻率，將會使得（）因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力強(qiáng)，可提高對缺陷的定位精度。
題型：多項(xiàng)選擇題
探傷掃查過程中，探頭的方向應(yīng)根據(jù)（）進(jìn)行布局和掃查。
題型：單項(xiàng)選擇題
60kg/m與75kg/m軌頭寬度極限偏差為（）
題型：單項(xiàng)選擇題
探傷工技師對設(shè)備調(diào)整中的（）的相關(guān)知識應(yīng)了解。
題型：單項(xiàng)選擇題
垂直法探傷時(shí)，對要求不太高的工件常采用局部法進(jìn)行掃查，局部法掃查一般分為（）。
題型：多項(xiàng)選擇題