A、結(jié)構(gòu)反射和變型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、側(cè)壁干擾
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都對(duì)
A、應(yīng)使用直探頭
B、要使用大晶片探頭
C、壓電元件應(yīng)在其基頻上激發(fā)
D、探頭的頻帶應(yīng)盡可能寬
A、1/2λ以上
B、2λ以上
C、4λ以上
D、以上都不對(duì)
A、探頭耦合面幾何尺寸來(lái)決定
B、根據(jù)試塊材料決定
C、幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到4λ以上
D、以上都不對(duì)
A、底波計(jì)算法
B、試塊法
C、通用AVG曲線法
D、以上都可以
最新試題
缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來(lái)表示缺陷的（）
用于測(cè)量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì)，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測(cè)量黑光。
無(wú)損探傷檢測(cè)采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長(zhǎng)范圍為（）mm，峰值波長(zhǎng)為365mm。
磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和（）兩種測(cè)量方法。
在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
對(duì)于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進(jìn)行掃查。
渦流檢測(cè)線圈的自感式線圈由（）構(gòu)成。
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的（）