縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。

曲面工件探傷時，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

脈沖重復頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關，對厚度大的工件，應采用較低的重復頻率。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠，覆蓋區(qū)愈大。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

標準試塊的材質(zhì)應盡可能與被檢工件相同或相近。

縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進行缺陷檢測。

多探頭法是用兩個以上的探頭同時工作的檢測方法。

斜探頭前部磨損較多時，探頭的K值將變小。